專利公告 Patents
一標準平板量測並補償空間精度系統與方法
刊登日期：2026/05/11
| ‧ 專利名稱 | 量測標準平板並補償空間精度系統及其方法 |
| ‧ 專利證書號 | I925332 |
| ‧ 專利權人 | 國立臺灣大學 |
| ‧ 專利國家 (申請日) |
中華民國 (2024/11/06) |
| ‧ 單位 | 機械工程學系 |
| ‧ 發明人 / PI | 覺文郁,謝東賢,許家銘,張祐維,曾政中,吳晨仕, |
| ‧ 簡歷 / Experience |
技術摘要 / Our Technology：
本發明提供一種一標準平板量測並補償空間精度系統與方法，使用光電感測器、偵測棒、IOT訊號模組與機邊裝置進行工具機線性軸、誤差蒐集。
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