專利公告 Patents
具有全域反捲積表面形貌重建之線掃描彩色共焦量測系統
刊登日期：2025/06/01
| ‧ 專利名稱 | 具有全域反捲積表面形貌重建的線掃描彩色共焦量測系統 |
| ‧ 專利證書號 | I886056 |
| ‧ 專利權人 | 國立臺灣大學 |
| ‧ 專利國家 (申請日) |
中華民國 (2024/09/30) |
| ‧ 單位 | 機械工程學系 |
| ‧ 發明人 / PI | 陳亮嘉,蔡翰儒, |
| ‧ 簡歷 / Experience |
技術摘要 / Our Technology：
一種具有全域反捲積表面形貌重建之線掃描彩色共焦量測系統，能藉由量測到的空間變異點擴散函數，結合基反捲積的運算，而有效進行待測物表面影像還原，藉此解決橫向交談的問題。
聯繫方式 / Contact：
臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU
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電話/Tel：02-3366-9945