產學合作總中心
臺灣大學
聯絡我們
首頁
可授權技術
最新活動
最新消息
研發人才
影音專區
可讓售清單
熱門關鍵字:
3D
、
LED
、
遠距
、
觸控
、
太陽能
、
癌
、
生醫
、
OLED
、
擴增實境
、
面板
、
食品
、
感測
、
農
、
菌
、
藥
搜尋全站
研發人才
專利技術
可授權技術分類
生醫農健
(894)
+
農業
(177)
+
醫療器材
(257)
+
篩選平台
(65)
+
藥物
(168)
+
基因體學
(45)
+
研究工具
(66)
-
技術
(89)
‧
抗體
(7)
‧
生物晶片
(14)
‧
顯影劑
(1)
‧
DNA探針
(6)
‧
造影成像
(13)
‧
分子標記
(8)
‧
放射性同位素
(1)
‧
檢測技術
(52)
‧
純化/萃取
(11)
‧
奈米粒子
(1)
‧
促進細胞生長技術
(1)
‧
轉染技術
(1)
‧
質譜儀
(2)
‧
細菌培養
(1)
‧
回收與監測
(1)
+
食品加工
(6)
+
於手持式裝至進行醫學教育之app開發與應用
(1)
電資通光
(951)
+
電子光電
(300)
+
資訊通訊
(330)
機能材化
(1125)
+
材料化工
(283)
+
能源環工
(237)
+
機械儀設
(199)
+
xx
(3)
光學顯微鏡輔助之原子力顯微鏡精密正弦式局部掃瞄
刊登日期:2015/06/01
‧ 專利名稱
原子力顯微鏡系統及其決定邊界點的掃描方法、掃描樣本的方法
‧ 專利證書號
I519791
‧ 專利權人
國立臺灣大學
‧ 專利國家
(申請日)
中華民國 (2013/11/25)
‧ 發明人
傅立成
, 吳俊緯, 陳志烈, 林奕廷,
技術摘要:
一種掃描一樣本的方法,該方法包含下列步驟:以一第一弦波軌跡掃描該樣本之一第一區域。自該第一弦波軌跡掃描該第一區域之一實際路徑與該樣本之關係,而獲得一第一區域參數。以該第一區域參數預測掃描該樣本之一第二區域之一第二弦波軌跡。以該第二弦波軌跡掃描該第二區域。
聯繫方式
聯絡人: 研發處產學合作總中心
電話: (02)3366-9949
地 址: 10617臺北市大安區羅斯福路四段1號 禮賢樓六樓608室