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direct patterned nano-stressor using He beam lithography |
刊登日期:2019/12/24 |
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| ‧ 專利名稱 |
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| ‧ 專利證書號 |
CN107665919B I763691 US10516050B2 US11164972B2 US11538938B2
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
美國 (2017/03/09) 中華民國 (2017/07/26) 中國 (2017/07/27) 美國 (2019/12/23)
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| ‧ 發明人 |
林浩雄, |
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技術摘要: |
一種半導體元件,包括自基板突出的半導體鰭片、半導體鰭片上方的閘極電極、半導體鰭片與閘極電極之間的閘極絕緣層、半導體鰭片之相對側上設置的源極區域與汲極區域、源極區域與汲極區域之間的區域中所形成之第一應力源。第一應力源包括一種選自由He、Ne及Ga組成之群組的材料。
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聯繫方式 |
| 聯絡人:
研發處產學合作總中心 |
電話:
(02)3366-9949 |
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| 地 址:
10617臺北市大安區羅斯福路四段1號 禮賢樓六樓608室 |
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