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厚度量測裝置

刊登日期：2014/05/21

‧ 專利名稱	厚度量測裝置
‧ 專利證書號	M391645
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2010/07/05)

‧ 發明人/PI	范光照,陳守恆,
‧ 單位	機械工程學系
‧ 簡歷/Experience

技術摘要 / Our Technology：

一種厚度量測裝置，適於量測待測物的厚度。此厚度量測裝置包括平台、頂板、光學模組及遮光模組。平台適於承載待測物。頂板配置於平台之量測區上方。光學模組配置於平台下方，且包括光源與感光元件。光源適於提供光束，感光元件與光源相對，且適於接收光束。遮光模組可移動地配置於平台與光學模組之間。遮光模組適於沿預定方向移動，且遮光模組適於遮蔽至少部分光束。

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