以光學同調斷層掃描分析黏膜本的方法
  ‧ 專利名稱 以光學同調斷層掃描分析黏膜本的方法
  ‧ 專利證書號 I359007
8023119B2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2008/10/29)
美國 (2009/02/26)
 
  ‧ 發明人/PI 蔡孟燦 ,李翔傑 ,李正匡 ,王義閔 ,江俊斌 ,陳信銘 ,楊志忠 ,
  ‧ 單位 光電工程學研究所
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
一種光學同調斷層掃瞄分析生物黏膜結構的方法,包括:(a)利用光學同調斷層掃瞄系統掃瞄一黏膜樣本;(b)由該光學同調斷層掃瞄的二維或三維影像結果中,選出一特定橫向範圍,分析該特定橫向範圍內所有縱向強度分佈(A-scan intensity profile)訊號;(c)計算各縱向強度分佈之三種參數,包括在樣品表面下某一深度範圍的強度標準差(Standard deviation)、空間頻譜的指數衰減常數(Exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum)以及基底膜(Basement membrane)仍存在的情況下之上皮的厚度(Epithelium thickness)等三種指標;以及(c)以該橫向範圍內所有縱向強度(A-scan)的三種參數值,來分析黏膜樣本之結構。

A method for analyzing mucosa structure with optical coherence tomography (OCT) is provided, and includes: (a) scanning a mucosa sample with optical coherence tomography; (b) choosing a lateral range from a two- or three-dimensional OCT image and analyzing all the A-scan intensity profiles in the lateral range; (c) calculating three indicators in each A-scan intensity profile, including the standard deviation for a certain depth range below the sample surface, the exponential decay constant of the spatial-frequency spectrum and the epithelium thickness under the condition that the basement membrane is identifiable; and (d) using the three indicators of each A-scan intensity profile within the lateral range to analyze the mucosa structure.





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