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 藉由數位類比轉換器輸出電壓之位移及縮放以進行資料轉換器迴路測試之方法
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刊登日期：2014/05/21 |
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| ‧ 專利名稱 |
迴路測試架構及方法 |
| ‧ 專利證書號 |
I410051
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2010/03/05)
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| ‧ 發明人/PI |
黃炫倫 ,黃俊郎,林王安,康平穎 ,
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| ‧ 單位 |
電子工程學研究所
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| ‧ 簡歷/Experience |
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| 技術摘要 / Our Technology： |
一種迴路測試架構，包含：電壓調整器、數位類比及類比數位轉換器。電壓調整器包括：包括電壓放大及電壓縮小電路之增益控制模組及位移控制模組。於數位類比測試模式，數位類比轉換器依序產生第一類比測試訊號，由增益控制模組放大電壓準位後，由類比數位轉換器依序轉換得到測量電壓值。於類比數位測試模式，數位類比轉換器產生類比測試訊號群組，由增益控制模組縮小電壓準位及位移控制模組位移電壓準位後，由類比數位轉換器依序轉換得到字碼對應。類比測試訊號群組分別對應類比數位轉換器之一刻度範圍。一種迴路測試方法亦在此被揭露。
A loopback test architecture is provided. The loopback test architecture includes a voltage adjuster, a DAC and an ADC. The voltage adjuster includes a gain control module including a voltage scale-up circuit and a voltage scale-down circuit and an offset control module. During a DAC test mode, the DAC generates a series of first analog test signals to be scaled up by the voltage scale-up circuit. The ADC converts the first analog test signals into a plurality of voltage values. During an ADC test mode, the DAC generates a series of analog test signal groups to be scaled down and offset by the voltage scale-up circuit and the offset control module. The ADC further converts the analog test signal group into a plurality of code hits, wherein each analog test signal group corresponds to a scale-range of the ADC. A loopback test method is disclosed herein as well.
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| 專利簡述 / Intellectual Properties： |
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聯繫方式 / Contact： |
| 臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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| Email：ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel：02-3366-9945 |
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