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一種具時序分析螢光影像檢測方式及裝置

刊登日期：2015/04/11

‧ 專利名稱	一種具時序分析螢光影像檢測方式及裝置
‧ 專利證書號	I480536 US10036704B2
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2014/05/22) 美國 (2014/07/31)
‧ 發明人	陳文翔, 翁睿謙, 黃吉宏, 盧彥蓓, 羅佳紋,

技術摘要：

一種螢光強度分析與螢光影像合成系統及其方法，透過第一螢光強度偵測裝置依據第一時序依序偵測多個第一螢光強度範圍，第二螢光強度偵測裝置依據第二時序依序偵測多個第二螢光強度範圍，再由圖像處理裝置進行第一時序與第二時序的時序分析以依據螢光強度將第一螢光強度範圍以及第二螢光強度範圍合成為合成圖像，即可進行影像處理以計算出螢光目標範圍並進行螢光目標範圍的標示，藉此可以達成提供便利且觀察螢光分布分析的技術功效。

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