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金屬-絕緣體-半導體結構之紅外光偵測技術
 刊登日期：2023/06/08
  ‧ 專利名稱 光偵測元件
  ‧ 專利證書號 I806274
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)		 中華民國 (2021/12/06)
美國 (2022/11/28)
 
  ‧ 發明人/PI 蘇子鈞,張仁耀,林清富,
  ‧ 單位 光電工程學研究所
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology：



專利簡述 / Intellectual Properties：



 

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