具漏電流校正之鎖相迴路
刊登日期:2014/05/21
  ‧ 專利名稱 具漏電流校正之鎖相迴路
  ‧ 專利證書號 I357214
7786810
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2008/07/01)
美國 (2008/11/25)
 
  ‧ 發明人/PI 劉深淵 ,張鎔諭 ,洪兆慶 ,
  ‧ 單位 電子工程學研究所
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
一種具漏電流校正之鎖相迴路,此具漏電流校正之鎖相迴路基於一般的鎖相迴路,其包含一相位頻率偵測器、一電荷幫浦、一濾波器、一壓控振盪器及一除頻器。特別地,本發明所提出的濾波器為一種一具有一補償電壓端點之濾波器。當該濾波器所使用的MOS電容的閘極氧化層存有漏電流現象時,藉由本發明所提出的多種漏電流校正電路對該濾波器內的該補償電壓端點進行漏電流補償,可解決習知鎖相迴路因抖動而發生脫鎖的問題。

A phase locked loop with a current leakage adjustment function is provided. The phase locked loop includes a phase locked loop unit having a compensation voltage node, a digitalized leakage-detection circuit generating a plurality of digital control signals based upon the phase error between a reference clock signal and a feedback signal, and a compensation circuit generating a compensation current based upon the plurality of digital control signals. When there exist current leakages of the MOS capacitors, the current leakage adjustment circuits provided by the present invention may prevent the conventional phase locked loop from un-locking due to jittering.




專利簡述 / Intellectual Properties:




 

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