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 可降低電源雜訊之自動測試向量產生技術
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刊登日期：2014/05/21 |
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| ‧ 專利名稱 |
測試圖案最佳化的方法 |
| ‧ 專利證書號 |
I403746
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2008/10/22)
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| ‧ 發明人/PI |
吳孟帆 ,黃俊郎,溫曉青 ,宮瀨紘平 ,
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| ‧ 單位 |
電子工程學研究所
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| ‧ 簡歷/Experience |
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| 技術摘要 / Our Technology： |
一種測試圖案最佳化的方法，用以將一具有複數個主要輸入及虛擬主要輸入的測試圖案中，為不相關位元的各該虛擬主要輸入設定為邏輯0/1，且各個虛擬主要輸入會分別對應一個虛擬主要輸出。首先，判斷測試圖案中每一不相關位元之邏輯值是否為其餘任何複數個位元的線性組合，若是則將該不相關位元標記為一隱藏位元，再將所有隱藏位元分別設定為各個隱藏位元中由複數個位元線性組合後的邏輯值，接著根據一分類規則，將其餘的不相關位元分類成複數群組，再將各個群組中的不相關位元設定為邏輯0/1，且重複上述動作直到測試圖案中不相關位元皆被設定。
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| 專利簡述 / Intellectual Properties： |
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聯繫方式 / Contact： |
| 臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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| Email：ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel：02-3366-9945 |
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