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 一種相位陣列天線校正方法
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刊登日期：2021/05/01 |
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| ‧ 專利名稱 |
一種相位陣列天線校正方法 |
| ‧ 專利證書號 |
I739181
11811461
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2019/10/24)
美國 (2021/01/15)
中國 (2021/02/08)
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| ‧ 發明人/PI |
周錫增,劉人瑋,
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| ‧ 單位 |
電信工程學研究所
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| ‧ 簡歷/Experience |
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| 技術摘要 / Our Technology： |
一種相位陣列天線校正方法，係為一種應用於掃描波束的相位陣列天線的校正方法，其中上述相位陣列天線具有N個天線元素，其分解成具有M個天線元素的G個子陣列，而相位陣列天線校正方法係包含下列步驟：(a)輸入上述G個子陣列對應操作次序r的子陣列離散傅立葉轉換信號於上述G個子陣列；(b)在一個固定位置量測上述G個子陣列對應操作次序r的遠場信號；(c)重複步驟a至b的操作次序r由1至G次，產生對應上述G個子陣列遠場信號的G個子陣列誤差校正信號。
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| 專利簡述 / Intellectual Properties： |
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聯繫方式 / Contact： |
| 臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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| Email：ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel：02-3366-9945 |
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