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 一種基底細胞高度之影像分析方法
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刊登日期：2021/07/01 |
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| ‧ 專利名稱 |
一種量測皮膚基底細胞高度的方法 |
| ‧ 專利證書號 |
I784226
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2019/12/26)
美國 (2019/12/26)
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| ‧ 發明人/PI |
孫啟光,陳勝澤,
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| ‧ 單位 |
光電工程學研究所
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| ‧ 簡歷/Experience |
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| 技術摘要 / Our Technology： |
本發明係有關一種量測皮膚基底細胞高度的方法，包括：提供一用以拍攝待測皮膚之至少一皮膚基底細胞之非侵入式顯微鏡裝置，包含：一用以發射具脈衝雷射之雷射光的雷射光源，及一用以處理影像訊號之影像處理構件；將該雷射光經由該影像處理構件匯聚在該待測皮膚之各該至少一皮膚基底細胞，並取得一二維影像；利用該影像處理構件使各該二維影像堆疊成像；將剛開始出現之各該至少一基底細胞之該二維影像標記為第一層；將各該至少一基底細胞剛消失的影像標記為最後一層；以及經計算各該至少一基底細胞之該第一層與該最後一層之間二維堆疊影像之堆疊數目，將之乘以一預先設定之兩個堆疊影像之間的距離，以獲得該至少一基底細胞之高度，以供皮膚色素疾患之治療評估。
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| 專利簡述 / Intellectual Properties： |
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聯繫方式 / Contact： |
| 臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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| Email：ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel：02-3366-9945 |
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