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 線形掃描彩色共焦量測系統
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刊登日期：2022/09/01 |
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| ‧ 專利名稱 |
線形掃描彩色共焦量測系統 |
| ‧ 專利證書號 |
I801149
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| ‧ 專利權人 |
國立臺灣大學 |
‧ 專利國家
(申請日) |
中華民國 (2022/02/23)
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| ‧ 發明人/PI |
陳亮嘉,伍國瑋,陳泓叡
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| ‧ 單位 |
機械工程學系
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| ‧ 簡歷/Experience |
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| 技術摘要 / Our Technology： |
本發明提供一種線形掃描彩色共焦量測系統， 包括有一光源模組、一光學模組、一光導引模組以及一偵測模組。該光源模組，用以產生一線形偵測光。該光學模組用以接收該線形偵測光，該光學模組具有一色散物鏡，用以接收該線形偵測光，並將該線形偵測色散形成複數道具有不同聚焦深度的線形色散光投射到一待測物上，並從該待測物反射形成一線形測物光。其中，該色散物鏡具有一中心光軸，每一線形色散光具有複數道子色散光，分別投射到待測物上的不同位置，每一子色散光的光軸與該中心光軸平行，使得每一子色散光從該待測物上反射時被該色散物鏡所接收。該光導引模組，設置於該光源模組與該光學模組之間，用以根據一控制訊號改變該線形偵測光進入該色散物鏡的角度，進而改變投射至該待測物上的位置。該偵測模組接收該線形測物光，並將該線形測物光轉換成一光譜資訊。該光譜資訊可藉由適當峰值偵測演算法以及系統之深度反應校正曲線之轉換，可求得被測物體之形貌資訊。同時，藉由二維振鏡之掃描，可達到被測物體之全域三維形貌量測與重建之能力。
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| 專利簡述 / Intellectual Properties： |
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聯繫方式 / Contact： |
| 臺大產學合作總中心 / Center of Industry-Academia Collaboration, NTU |
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| Email：ordiac@ntu.edu.tw |
電話/Tel：02-3366-9945 |
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