檢測單元、系統及使用該系統之檢測方法
刊登日期:2014/05/21
  ‧ 專利名稱 檢測單元、系統及使用該系統之檢測方法
  ‧ 公開號 201209389
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
中華民國 (2010/08/26)
 
  ‧ 發明人/PI 蔡定平,周趙遠鳳,葉翰軒,
  ‧ 單位 物理學系
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:
本發明關於一種檢測系統及使用該系統之檢測方法,該檢測系統包含一具有一奈米空心柱體對之檢測單元。前述檢測方法藉著入射一電磁波使前述奈米空心柱體對產生表面電漿共振而達到檢測樣本的目的。



專利簡述 / Intellectual Properties:




 

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