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低同調光源時空干涉成像術及其裝置

刊登日期：2014/05/21

‧ 專利名稱	低同調干涉光學成像裝置
‧ 專利證書號	I418762 I494540 US8610900B2 US8582110B2
‧ 專利權人	國立臺灣大學
‧ 專利國家 (申請日)	中華民國 (2010/03/29) 美國 (2010/07/22) 美國 (2012/12/14) 中華民國 (2013/10/18)

‧ 發明人/PI	黃升龍,王譽達, 許博凱,
‧ 單位	光電工程學研究所
‧ 簡歷/Experience

技術摘要 / Our Technology：

本發明係有關於一種低同調干涉光學成像裝置，尤指一種可同時取得樣本不同深度之資訊之低同調干涉光學成像裝置。其主要係利用一相位轉換反射單元，或光束位移單元與一光束曲折單元之組合，令反射後之參考光束於一橫截面上不同位置具有不同的相位。當參考光束與取樣光束在光感測器上產生干涉時，可於同一時間獲得來自樣本不同深度的資訊。利用本發明之低同調干涉光學成像裝置及其成像方法，可有效減少裝置構件、縮小裝置體積及降低製作成本。由於可減少一個維度的掃描時間，故可大幅提高裝置之掃描速度。

The present invention relates to an apparatus for low coherence optical imaging, and more particularly to an apparatus for low coherence optical imaging which can obtain the information of the different depths of a sample simultaneously. The apparatus comprises a phase transformation unit or a beam shift unit. The phase transformation unit or beam shift unit transforms and reflects the reference light, such that the reflected reference light comprises different phases at the different positions of a cross-section. When the reference light and a information light from the sample are superimposed on a photo detector, the information of the different depths of the sample is obtained. By using the apparatus of the present invention, the elements, the volume, and the cost of the apparatus are reduced. Because of only two-dimensional scanning is required, the scanning rate is improved.

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