Derect writing nano-stressor using ion beam with sacrificial layer for throughput improving
刊登日期:2019/01/15
  ‧ 專利名稱
  ‧ 專利證書號 10510611B2
10957602B2
10832957B2
10347538B2
  ‧ 專利權人 國立臺灣大學
  ‧ 專利國家
    (申請日)
美國 (2017/10/04)
中華民國 (2017/12/04)
中國 (2017/12/06)
美國 (2019/07/03)
美國 (2019/12/12)
 
  ‧ 發明人/PI 林浩雄
  ‧ 單位 台積電-臺灣大學聯合研發中心
  ‧ 簡歷/Experience
技術摘要 / Our Technology:




專利簡述 / Intellectual Properties:




 

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